2.2.4 Специальные методы исследования2.2.4.1 Метод исследования морфологической структуры муки, ламинарии сушеной и теста
Подготовка образцов осуществлялась следующим образом.
Порошки (пшеничная мука высшего сорта, ламинария после набухания в воде и затем высушивании в вакууме) приклеивались токопроводящим клеем на предметный столик.
Тесто тонким слоем наносилось непосредственно на предметный столик.
о
Затем образцы покрывались тонким слоем золота (200 А) на установке катодного распыления Polaron, England,
После данной подготовки образцы наблюдались в электронном микроскопе при увеличении х200, х400, xIOOO и х4000 [93, 153].
Полученные электронные микрофотографии представлены и обсуждены в разделе 2,4.3.2.2.2.4.2 Идентификация неорганических соединений йода методом рентгенофазового анализа
Рентген оструктурный анализ применяется для исследования порошкообразных веществ в кристаллическом состоянии. Он основан на изучении дифракции рентгеновских лучей, проходящих через кристаллическую решетку вещества, которая играет роль системы дифракционных решеток [153].
При попадании рентгеновских лучей на кристалл в некоторых направлениях возникают очень интенсивные рассеянные лучи.
17 18 1
Рентгеновские лучи (частота 10 - 10 Гц, длина волны Хр « 10" нм) рассеиваются электронами атомов и молекул без изменения их энергии, т.е. имеет место упругое рассеяние. Интенсивность рассеяния, просуммированная по всем направлениям, характеризует рассеивающую способность к данному виду излучения. Дифракционная картина рассеяния обусловлена волновыми свойствами излучения и частиц. Длина волны электромагнитного излучения связана с его энергией [153]:
Ь=? = 7-А. (27)
где Ev - энергия фотона с частотой v; с - скорость света.
Частицам с массой т, движущимся со скоростью v, соответствует волна (уравнение де Бройля):
X = h/{mv) (28)
Основное условие дифракции состоит в том, что длина волны (V) должна быть близка или меньше расстояний между атомами рассеивающего вещества.
В рентгенографии рентгеновские лучи используют для исследования конденсированной фазы веществ, т.е. макроскопических объектов.
В связи с различным характером взаимодействия излучения, а также пучков частиц с веществом наблюдается и различная зависимость их рассеяния от атомного номера элемента (Z) рассеивающего атома.
Количественно рассеивающую способность атома определяют атомной амплитудой рассеяния /(#), где в - угол рассеяния. Величина \j{0) \1 пропорциональна интенсивности излучения 1Р (9), рассеянного атомом под углом в. Амплитуда рассеяния рентгеновских лучей fp {О) при малых углах рассеяния пропорциональна Z, а при больших углах - Z1/2.В работе на рентгеновском дифрактометре ДРОН-3 была проведена идентификация неорганических соединений йода, присутствующих в ламинарии сушеной пищевой, результаты которой будут представлены в разделе 2.4.4.1. Для проведения анализа образец ламинарии сушеной растирался в агатовой ступке до мелкодисперсного состояние. После чего запрессовывался вручную с помощью предметного стекла на глубину 1 мм в кювету площадью 10x15 мм. Кювета устанавливалась на гониометрическое устройство дифрактометра и осуществлялась съемка. Регистрация дифракционной картины проводилась на самописце КСП-4.
Еще по теме 2.2.4 Специальные методы исследования2.2.4.1 Метод исследования морфологической структуры муки, ламинарии сушеной и теста:
- § 2. Методы исследования и формы знания эмпирического уровня
- //"f3> §4. Методы исследования ?
- Об определении предмета политической экономии и о методе исследования, свойственном ей41 Джон Стюарт Милль
- 2.3. Методы исследования технологических свойств муки и качества готовых изделий
- Методы исследования.
- Методы исследования2.2.1 Методы моделирования в технологии хлебобулочных изделий с включением биологически активных добавок
- 2.2.2 Методы исследования свойств сырья, полуфабрикатов и готовыххлебобулочных изделий
- 2.2.2.2 Методы исследования реологических свойств теста
- 2.2.4 Специальные методы исследования2.2.4.1 Метод исследования морфологической структуры муки, ламинарии сушеной и теста
- 2.4.3.2 Исследование морфологической структуры муки, ламинарии и теста методом сканирующей электронной микроскопии
- 2.4. Частные и специальные методы познания права и государства
- § 2. Методы исследования в педагогической психологии